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日本alnair labs超窄帶波長濾光片BYF-300 光學測量儀
日本alnair labs超窄帶波長濾光片BYF-300 半寬波長可調濾光片可實現 1500 dB/nm （12 dB/GHz） 的超陡邊滾降。 邊緣特性適用于切斷DWDM通道并在放大后消除帶外ASE噪聲。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1653
日本alnair labs帶寬可變濾光片CYF-300CL 光學測量儀
日本alnair labs帶寬可變濾光片CYF-300CL 半寬波長可調濾光片可實現 1500 dB/nm （12 dB/GHz） 的超陡邊滾降。 邊緣特性適用于切斷DWDM通道并在放大后消除帶外ASE噪聲。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1926
synqroa樹脂和薄膜劃痕目視檢查燈IN-PP01A 光學測量儀
synqroa樹脂和薄膜劃痕目視檢查燈IN-PP01A 該照明設備是樹脂和薄膜目視檢查的理想選擇。 大尺寸 inVIEW PAD + PLUS 現已上市。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1802
synqroa帶放大功能的目視檢查燈IN-CRL01A 光學測量儀
synqroa帶放大功能的目視檢查燈IN-CRL01A inVIEW圓形燈是一種具有放大和偏振調節功能的新概念照明設備。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1801
日本synqroa劃痕和異物照明檢查燈IN-AG01A 光學測量儀
日本synqroa劃痕和異物照明檢查燈IN-AG01A 玻璃上的劃痕和異物，鋼琴繪畫和透明樹脂都可以解決！
更新日期：2024-03-23 訪問量：1815
日本dynatec大型平面檢查燈LFPA-D 大型工件的目視檢查的理想選擇 大型工件的印刷和雕刻檢查 非常適合托盤的數量檢查。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1674
dynatec超亮芯片LED檢查燈LHMB，LHMB-V 光學測量儀
dynatec超亮芯片LED檢查燈LHMB，LHMB-V 薄型平面照明，表面安裝芯片 LED。 芯片 LED 以高密度安裝，提供高度均勻的光線，使其成為透射照明的理想選擇。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1726
dynatec帶相機觀察窗口的表面照明燈IPS-FR 光學測量儀
dynatec帶相機觀察窗口的表面照明燈IPS-FR 表面照明，可通過鏡面反射照明進行檢測 有效檢查表面上的細小劃痕和檢查印刷/字符。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1087
日本dynatec可內置式微型聚光燈LHVA-SP30 光學測量儀
日本dynatec可內置式微型聚光燈LHVA-SP30 體積小，亮度高 非常適合機器人手臂前端的點照射
更新日期：2024-03-23 訪問量：1762
日本dynatec同軸聚光燈 LSV，LHV，LHVE 光學測量儀
日本dynatec同軸聚光燈 LSV，LHV，LHVE 理想的LED同軸和聚光照明，可替代用于遠心鏡頭的鹵素光導光源。
更新日期：2024-03-23 訪問量：2387
dynatec立方體圓頂照明檢查燈液晶-B16-HP 光學測量儀
dynatec立方體圓頂照明檢查燈液晶-B16-HP 電源 LED 用于為間接光提供足夠的光。 LED安裝部分為散熱器型，因此即使在穩定的光線下也可以不產生熱量。
更新日期：2024-03-23 訪問量：1695
日本FUNATECH表面檢查燈FY-18系列 外觀因技能水平和個體差異而異。首先，有必要創造一個易于看到的環境。通過更好的“可視化”，可以抑制人為的工作變化，縮短目視檢查的工作時間，有效防止不良品流出。
更新日期：2024-03-22 訪問量：2409
FY-18L/FY-18N日本FUNATECH硅玻璃晶片檢查燈 無極燈
日本FUNATECH硅玻璃晶片檢查燈FY-18L/FY-18N 檢察對象 硅和玻璃晶圓、液晶濾色器、玻璃鏡頭、光罩、電影、陶瓷、圓盤、金屬表面（鋁，不銹鋼，銅等）、陰極射線管、觸摸屏、太陽能電池、汽車、家電、建筑內部材料、光面紙、熱轉印膜、版、電子元器件等。
更新日期：2024-03-21 訪問量：2414
日本FUNATECH目視檢查燈FY-18L/FY-18N 無極燈
日本FUNATECH目視檢查燈FY-18L/FY-18N FUNATECH株式會社成立于1965年2月日本安達，其中主要產品是各種紫外線殺菌裝置、UV式臭氧發生裝置、干涉條紋檢查燈、透射光檢查燈、紫外線燈光源、紫外線強度計產品的專業制造廠商。
更新日期：2024-03-21 訪問量：2416
SPA2-10SWW / SPA2-10SDW日本HR林時計Ace廣角鏡型目視檢查燈
日本HR林時計Ace廣角鏡型目視檢查燈SPA2-10SWW / SPA2-10SDW 用于在每個制造檢查過程中對產品進行視覺檢查的照明 鏡片，玻璃制品，片材/薄膜金屬表面的沉積狀態
更新日期：2026-07-06 訪問量：2019
