客戶咨詢熱線：
15270896115
圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測(cè)量?jī)x
圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過(guò)濾器底座規(guī)格 F20 系列過(guò)濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號(hào)：FA-100C-K 型號(hào)：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1880
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測(cè)量?jī)x
seiwaopt鹵素光纖光源FA-100C/FA-150EN 過(guò)濾器底座規(guī)格 F20 系列過(guò)濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號(hào)：FA-100C-K 型號(hào)：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1979
seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 光學(xué)測(cè)量?jī)x
seiwaopt圖像處理鹵素光源FA-100C/FA-150EN 過(guò)濾器底座規(guī)格 F20 系列過(guò)濾器可以從纖維出口插入和移除。 型號(hào)：FA-100C-K 型號(hào)：FA-150EN-K
更新日期：2024-03-25 訪問(wèn)量：1810
YP-250I電子元器件用表面檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I電子元器件用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：1964
YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測(cè)用表面檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I半導(dǎo)體芯片檢測(cè)用表面檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：2813
YP-250I液晶面板檢測(cè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I液晶面板檢測(cè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：1855
YP-250I液晶屏幕檢測(cè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I液晶屏幕檢測(cè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：1871
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：1907
YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：1894
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：1926
YP-150I表面檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-150I表面檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：1879
YP-150I目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-150I目視檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：1895
YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測(cè)量?jī)x
YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：4708
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：3081
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)
更新日期：2024-03-24 訪問(wèn)量：1757
