光纖式非接觸式位移計PM-E測量原理分析

光纖式非接觸式位移計PM-E測量原理分析



PM-E是一種通過光纖將光照射到被測物體并檢測反射光，從而可以輕松地以非接觸方式測量物體位移的裝置。被測物體的反射光量隨被測物體與光纖探頭端面的距離（間隙）的不同而不同，如下圖所示。此時反射光相對于圖中?（前坡）和?（后坡）區(qū)域的間隙幾乎呈線性變化，因此這些區(qū)域被用于位移測量。
由于一個單元具有兩個位移檢測特性，您可以在需要高分辨率的測量中使用前斜率，在需要寬測量范圍的測量中使用后斜率。此外，?（光峰位置）對位移的敏感度低，因此可用于檢測被測物的表面狀況和缺陷。



它是一種通過光纖將光照射到被測物體并檢測反射光，從而實(shí)現(xiàn)位移和振動的高速非接觸變化的裝置。
由于它利用光進(jìn)行測量，因此被測物體上沒有負(fù)載，不受磁場或電場的影響。
追求小型化和簡單化的“PM-E"是一款滿足研發(fā)和各種工業(yè)領(lǐng)域廣泛要求的產(chǎn)品。

• ?完quan非接觸式，可廣泛用于測量振動、位移、表面狀態(tài)等。

• ?抗電磁干擾，可進(jìn)行微點(diǎn)測量

• ?因為前斜面和后斜面都可以使用，所以可以同時實(shí)現(xiàn)高靈敏度和寬范圍。

• ?維護(hù)簡單快捷，費(fèi)用低