客戶咨詢熱線：
15270896115
訪問次數：1761
更新日期：2026-06-22
簡要描述：
日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216消除測量者的偏差舒適，準確地測量1μm或更小的超薄膜
| 品牌 | 其他品牌 | 類型 | 數字式 |
|---|---|---|---|
| 測量范圍 | 1 | 產地 | 進口 |
日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216
消除測量者的偏差舒適，準確地測量1μm或更小的超薄膜
* 1線性度是
顯示是否可以與測量頭的位移量成比例顯示的比率。 位移量
為±0.2％
/ 100μm±0.2μm
位移量/ 500μm±1μm
位移量/ 1000μm±2μm
（測量誤差因位移量而異）
重復性/ 0.05μm
（使用升降器重復上下觸控筆）
測量分辨率/ 0.01μm
線性度/±0.2％* 1
可以改變測量壓力（z小測量壓力0.14N）
米/ R30超硬球面
測量范圍/ 200μm * 2
測量架/測量表面Φ50陶瓷制成
輸出/模擬和RS232C
電源/ AC100V
選件/
?軟件?數據打印機?更換筆
·真空臺·外部置零開
* 2根據被測物體的材質，測量范圍可能會改變。
*注意* HKT-1240已因放大器單元的停產而停產。HKT-1216將替代HKT-1240。
