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更新日期：2025-05-02
簡(jiǎn)要描述：
日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測(cè)CRN-100超高電阻范圍：以非接觸方式測(cè)量10E + 9至10E + 15Ω/□平面多點(diǎn)測(cè)量功能
日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測(cè)CRN-100
測(cè)量目標(biāo)
*通常，可以測(cè)量本設(shè)備測(cè)量范圍內(nèi)的任何樣品。請(qǐng)聯(lián)xi我們。
?超高電阻薄膜樣品（a-Si，IGZO等）
?半導(dǎo)體材料接近絕緣
?導(dǎo)電橡膠
這樣
測(cè)量尺寸
尺寸：z大300 x 400毫米
厚度：z大2毫米
*我們可以自定義您的要求，例如尺寸支持。請(qǐng)聯(lián)xi我們。
測(cè)量范圍
10E + 9?10E + 15Ω/□
